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      一種工業缺陷識別方法、系統、計算設備及存儲介質的發明專利

      732次 2022-06-07 發明專利申請 

      摘要:

      本申請實施例公開了一種工業缺陷識別方法、系統、計算設備及存儲介質,屬于AI領域。在本申請實施例中,首先從待識別圖像中提取目標區域,然后再從目標區域中獲得包含有工業缺陷的缺陷粗選區域。通過兩次區域提取,提高了工業缺陷相對背景的尺寸占比,能夠提高小尺寸的工業缺陷的檢出概率。在檢測出包含有工業缺陷的缺陷粗選區域之后,對缺陷粗選區域中的工業缺陷進行進一步定位和尺寸估計,能夠有效提高缺陷定位和尺寸估計的精度。另外,本申請實施例中不僅對缺陷類型進行了識別,還能夠對工業缺陷進行定位和尺寸估計,豐富了工業缺陷的識別維度

      一種工業缺陷識別方法、系統、計算設備及存儲介質的發明專利

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